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半導體

半導體測試

  • ​主要用於半導體與 LCD / LED 薄膜 / 蝕刻製程中的射頻功率傳遞系統之測試與校正

  • 產品涵蓋射頻功率表、功率感測器、假負載與相關連接器與射頻纜線

  • 測試精確度可達 0.5%, 功率可達 50K

4421B540-2 精密射頻功率感測器介面模組

4421B540-2 精密射頻功率感測器介面模組

精密型射頻功率表

8645B 強制風冷 Moduload 射頻終端器

8645B 強制風冷 Moduload 射頻終端器

大功率假負載

8921 5kW 油冷式射頻終端器 (假負載)

8921 5kW 油冷式射頻終端器 (假負載)

大功率假負載

8655B 50 kW 強制風冷 Moduload 射頻終端

8655B 50 kW 強制風冷 Moduload 射頻終端

大功率假負載

8931 10 kW 油冷式射頻終端器 (假負載)

8931 10 kW 油冷式射頻終端器 (假負載)

大功率假負載

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