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半導體

半導體測試

  • ​主要用於半導體與 LCD / LED 薄膜 / 蝕刻製程中的射頻功率傳遞系統之測試與校正

  • 產品涵蓋射頻功率表、功率感測器、假負載與相關連接器與射頻纜線

  • 測試精確度可達 0.5%, 功率可達 50K

BDS2 系統 - 直插式電壓和電流探棒

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VI 分析儀

4027F 系列精密濾波射頻功率感測器

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精密型功率感測器

7037 系列超高精度連續波與脈衝功率感測器

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精密型功率感測器

4027A 系列精密定向射頻功率感測器

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精密型功率感測器

4028 系列定向通過式射頻功率感測器

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精密型功率感測器

4421A 多功能功�率計

4421A 多功能功率計

精密型射頻功率表

4020 系列定向通過式射頻功率感測器

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精密型功率感測器

7027 系列高精度連續波與脈衝功率感測器

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精密型功率感測器

4421B540-2 精密射頻功率感測器介面模組

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精密型射頻功率表

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